單項選擇題芯片與探測面平行,使超聲波垂直與探測進入材料的檢驗方法稱為()。

A.直射法
B.斜射法
C.表面波法
D.上述三種都不對


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1.單項選擇題射線源的尺寸過大,采用()方法彌補。

A.增加射線源到被檢物體的距離
B.加鉛屏
C.增加半影
D.增加被檢膠片的距離

2.單項選擇題射線照片圖像的密度是指()。

A.膠片厚度
B.試件厚度
C.膠片的品質
D.膠片的黑度

3.單項選擇題已知X射線機的焦點尺寸,可計算()。

A.輸出電流
B.射線強度
C.幾何不清晰度
D.距離