A.1.2~3.0
B.0.3~0.6
C.0.1~0.6
D.0.1~1.6
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A.1.2~3.0
B.0.3~0.5
C.0.1~0.5
D.0.1~1.5
A.10~30
B.20~30
C.15~30
D.15~40
A.逐個(gè)
B.隨機(jī)抽查,抽查比例應(yīng)不少于當(dāng)日探傷工作量的1∕3
C.隨機(jī)抽查,抽查比例應(yīng)不少于當(dāng)日探傷工作量的1∕4
D.隨機(jī)抽查,抽查比例應(yīng)不少于當(dāng)日探傷工作量的1∕2
A.0.2
B.0.3
C.0.4
D.0.5
A.A1-15/50
B.D1-15/50
C.C1-15/50
D.F1-15/50
最新試題
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)(r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷,一般采用()檢測(cè)。
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
通常所謂20KV的X射線是指()
發(fā)生康普頓散射的條件是()
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于()
下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述,不正確的一項(xiàng)是()
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()