A.表面液浸式
B.深度液浸式
C.側(cè)面液浸式
D.全浸沒式
E.局部浸沒式
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A.耦合不易穩(wěn)定
B.被檢表面要求粗糙度較小
C.手工操作受人為因素影響大
D.超聲波在界面的反射能量損失大
E.需采用較高的增益
A.操作方便
B.適用現(xiàn)場檢測，成本低
C.要求被檢表面的粗糙度較小
D.耦合容易穩(wěn)定
E.直接耦合，入射聲能損失少
A.衍射信號與缺陷的方向無關(guān)
B.缺陷檢出率高
C.超聲波束覆蓋區(qū)域大
D.缺陷高度測量精確
E.實時成像快速分析
A.確定缺陷當(dāng)量大小
B.計算靈敏度調(diào)節(jié)量
C.孔形換算
D.制作AVG曲線
E.確定缺陷形狀
A.表面狀態(tài)
B.形狀
C.缺陷位置
D.缺陷取向
E.尺寸
最新試題
衍射時差法對缺陷的定量依賴于缺陷的回波幅度。
根據(jù)球形反射體返回晶片聲壓的計算公式與圓柱形平面反射體的表達(dá)式進(jìn)行比較可知，在反射體直徑相同的情況下，圓形反射體的反射聲壓比球形反射體的反射壓小。
發(fā)射電壓幅度也就是發(fā)射脈沖幅度，它的高低主要影響發(fā)射的超聲波能量。
液浸法探傷是使探頭發(fā)射的超聲波經(jīng)過一段液體后再進(jìn)入試件的檢測的方法。
爬波在自由表面的位移有垂直分量，但不是純粹的表面波。
在檢測晶粒粗大和大型工件時，應(yīng)測定材料的衰減系數(shù)，計算時應(yīng)考慮介質(zhì)衰減的影響。
高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊，使之形成高溫耦合層。
對于橫波斜探頭而言，不同K值的探頭的靈敏度不同，因此探頭K值偏差也會影響缺陷的定量。
非金屬夾雜等缺陷的聲阻抗與鋼的聲阻抗相差很小，聲波在缺陷上的透射和吸收明顯高于白點和氣孔等缺陷。
當(dāng)探頭的性能不佳時出現(xiàn)兩個主聲束，發(fā)現(xiàn)缺陷時很難判斷是哪個主聲束發(fā)現(xiàn)的，因此也就難以確定缺陷的實際位置。