A.根據(jù)入射角度不同,試件中可同時產(chǎn)生縱波和橫波
B.根據(jù)入射角度不同,試件中可產(chǎn)生純橫波
C.根據(jù)入射角度不同,試件中可產(chǎn)生表面波
D.以上都正確
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A.掃查方式
B.掃查速度
C.掃查間距
D.以上都是
A.缺陷反射波高度
B.背反射損失
C.沿試件表面測量出的缺陷延伸范圍
D.以上都是
A.在確定的檢測條件下,缺陷的大小可用波高值來表示
B.缺陷反射面小于入射聲束截面時,可用底面回波高度法進行評定
C.缺陷回波幅度與人工反射體回波幅度進行比較,稱為當量評定法
D.以上都是
A.試塊對比
B.當量計算
C.AVG曲線
D.以上都是
A.將接觸法檢驗改為液浸法檢驗
B.將縱波檢驗改為橫波檢驗
C.用直徑較小的探頭進行檢驗
D.用直徑較大的探頭進行檢驗
最新試題
利用底波計算法進行靈敏度校準時,適用的工件厚度為()。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當提高后的靈敏度叫做()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
單探頭法容易檢出()。
當縱波直探頭置于細長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。