問答題
制造半導體元件時,常常要精確測定硅片上二氧化硅薄膜的厚度,這時可把二氧化硅薄膜的一部分腐蝕掉,使其形成劈尖,利用等厚條紋測出其厚度。已知硅的折射率為3.42,SiO2折射率為1.5,入射光波長為3.589nm,觀察到7條暗紋(如圖所示)。問SiO2薄膜的厚度e是多少?
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請畫出下圖的展開圖形。
題型:問答題
為看清4km處相隔150mm的兩個點(設l′=0.0003rad),若用開普勒望遠鏡觀察,則:(1)求開普勒望遠鏡的工作放大倍率;(2)若筒長L=100mm,求物鏡和目鏡的焦距;(3)物鏡框是孔徑光闌,求出射光瞳距離;(4)為滿足工作放大率的要求,求物鏡的通光孔徑;(5)若物方視場角2ω=8°求象方視場角;(6)漸暈系數(shù)K=50%,求目鏡的通光孔徑。
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根據(jù)道威判據(jù),顯微鏡的分辨率為()
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共軸球面系統(tǒng)只有在近軸區(qū)才能成完善像,而對于寬光束,當u較大時,成像就不完善,存在像差。
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利用費馬原理證明折射定律。
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題型:判斷題
已知開普勒望遠鏡的視覺放大率Γ=-6×,視場角2ω=6°;出瞳直徑D′=4mm;出瞳距l(xiāng)′z=13mm。設物鏡為孔徑光闌,計算:(1)物鏡的通光口徑;(2)視場光闌的口徑;(3)不漸暈時目鏡的通光口徑。
題型:問答題