單項(xiàng)選擇題橫波探頭晶片尺寸一定時(shí),K值與近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度的關(guān)系為()

A.K值增大時(shí),近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度不變
B.K值增大時(shí),近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度增大
C.K值增大時(shí),近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度減小
D.K值與近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度無關(guān)


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1.單項(xiàng)選擇題一般要求橫波斜探頭楔塊材料的縱波聲速小于被檢材料的縱波聲速,主要是因?yàn)橹挥羞@樣才有可能()

A.在工件中得到純橫波
B.得到良好的聲束指向性
C.實(shí)現(xiàn)聲束聚焦
D.實(shí)現(xiàn)波型轉(zhuǎn)換

2.單項(xiàng)選擇題使用半波高度法測(cè)定小于聲束直徑的缺陷尺寸時(shí),所測(cè)的結(jié)果()

A.小于實(shí)際尺寸
B.接近聲束寬度
C.稍大于實(shí)際尺寸
D.等于晶片尺寸

3.單項(xiàng)選擇題超聲檢測(cè)中需經(jīng)常校驗(yàn)探頭K值的原因是()

A.K值是不穩(wěn)定的數(shù)據(jù)
B.K值隨電壓的變化而變化
C.K值常因磨損而發(fā)生變化
D.以上都對(duì)

4.單項(xiàng)選擇題橫波探頭在檢測(cè)過程中,斜楔將會(huì)磨損。以下說法錯(cuò)誤的是()

A.探頭磨損會(huì)使入射點(diǎn)發(fā)生變化
B.探頭磨損可能導(dǎo)致探頭K值的增大
C.探頭磨損可能導(dǎo)致儀器的水平線性的變化
D.探頭磨損可能導(dǎo)致探頭K值的減小

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