A.草狀回波增多
B.信噪比下降
C.底波次數(shù)減少
D.以上的全部或部分現(xiàn)象發(fā)生
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A.1.25MHZ
B.2.5MHZ
C.5MHZ
D.10MHZ
A. 發(fā)現(xiàn)較小的缺陷
B. 區(qū)分開相鄰的缺陷
C. 改善聲束指向性
D. 以上都對(duì)
A. 聲束的指向性
B. 近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度
C. 遠(yuǎn)距離缺陷檢出能力
D. 以上都是
A. 水平線性誤差小
B. 垂直線性好、衰減器精度高
C.盲區(qū)小、分辨率好
D. 靈敏度余量高、信噪比高、功率大
A. 交叉式
B. V型串列式
C. K型串列式
D. 串列式
最新試題
用2.5P14Z探頭檢測(cè)某鍛件，發(fā)現(xiàn)在50mm深處有一缺陷引起的底波降低量為18dB，另一處密集區(qū)缺陷面積為 100cm2，檢測(cè)總面積為0.5米×0.5米，同時(shí)發(fā)現(xiàn)一單個(gè)缺陷，當(dāng)量為Φ4+10dB，試根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定此鍛件等級(jí)。
用K2斜探頭檢測(cè)T = 28mm 的鋼板對(duì)接接頭 ，儀器按深度1：1調(diào)節(jié)，在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Ф1×6面板曲線，這時(shí)衰減器讀數(shù)為34dB ， 試塊與工件耦合差為5dB ，（1） 如何調(diào)節(jié)評(píng)定線Ф1×6－9dB靈敏度？（2） 檢測(cè)中在 =50處發(fā)現(xiàn)一缺陷波，其波高達(dá)面板曲線時(shí)， 衰減器讀數(shù)為28dB，求該缺陷的當(dāng)量和所在區(qū)域？（按照J(rèn)B/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》標(biāo)準(zhǔn)）
用2.5P14Z探頭檢檢測(cè)厚度T＝150mm鋼板（CL= 5900m/s），如何用鋼板完好部位底波校準(zhǔn)檢測(cè)靈敏度？
用2.5P20Z探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件，鋼中CL=5900m/s ， 衰減系數(shù)α2= 0.01dB/mm ， （1）如用試塊（衰減可忽略）上的深200mm ，Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處檢測(cè)靈敏度（400/Ф2），兩者的波高差為多少？ （2）如果用厚度為200mm的試塊（鍛件與試塊衰減系數(shù)相同，耦合差為5dB）底波調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度（400/Ф2），兩者反射波高差為多少？
用2.5P20Z探頭從外圓周面檢測(cè)外徑D=1000mm ，內(nèi)孔d = 600mm的鍛件，CL=5900m/s 。如何利用內(nèi)孔回波校準(zhǔn)200/Ф2靈敏度？
用2.5P20Z直探頭檢測(cè)厚500mm的餅形鋼鍛件(CL=5900m/s ) ，如何用工件底波調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度（500/Ф2）
用2.5P20Z探頭檢測(cè)400mm的工件, CL= 5900m/s , 如何利用150mm處Ф4平底孔調(diào)節(jié)400/Ф2靈敏度？
用K2探頭探測(cè)T＝36mm鋼板對(duì)接焊接接頭，儀器按深度l：1調(diào)節(jié)，在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Φ1×6面板曲線，這時(shí)衰減器讀數(shù)為32dB，試塊與工件耦合差為5dB， （1）試問(wèn)焊縫兩側(cè)的修磨寬度各為多少？（2）如何設(shè)定Φ1×6－9dB評(píng)定線靈敏度？
用2.5P20Z探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件，鋼中CL=5900m/s ， 如何用試塊上的深150mm ，Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處的檢測(cè)靈敏度（400/Ф2）？
用CSK－IA 試塊測(cè)定斜探頭和儀器的分辨力,現(xiàn)測(cè)得臺(tái)階孔Ф50、Ф44 反射波等高時(shí)波峰高h(yuǎn)1=80% ,h2=25% ,求分辨力為多少？