問(wèn)答題用30x1011Bq的192Ir透照某工件,焦距1200mm,曝光10min,可得到底片黑度2.0,經(jīng)過(guò)1個(gè)半衰期后用同樣曝光時(shí)間透照相同工件,要保持底片黑度不變,則此時(shí)焦距應(yīng)為多少?
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對(duì)于檢測(cè)白點(diǎn)類內(nèi)部缺陷,適用的無(wú)損檢測(cè)方法是()
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在射線照相檢測(cè)中,當(dāng)提高射線能量時(shí)可能發(fā)生的是()
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