問(wèn)答題透照某試件時(shí)，放在焦點(diǎn)側(cè)試件表面的象質(zhì)計(jì)最小可見(jiàn)線徑為0.25mm，以此作為底片1，此時(shí)散射比n1=1.4，然后用鉛光闌和屏蔽板時(shí)散射比n2=0.5，再攝一張同黑度的底片，以此作為底片2，假定X射線機(jī)、管電壓、管電流、焦距、膠片、增感屏均不變。要攝得與底片1同黑度的底片2，曝光時(shí)間應(yīng)為底片1的曝光時(shí)間的幾倍？
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射線照相法適宜檢測(cè)的材料是（）
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以下不適合用超聲波檢測(cè)的缺陷是（）
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核力與下列哪種因素?zé)o關(guān)（）
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對(duì)于檢測(cè)白點(diǎn)類(lèi)內(nèi)部缺陷，適用的無(wú)損檢測(cè)方法是（）
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下列哪種不是射線照相法的特點(diǎn)（）
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有關(guān)射線膠片特性的敘述，正確的是（）
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渦流檢測(cè)不適合于檢測(cè)（）
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射線檢測(cè)裂紋和其與裂紋的角度的關(guān)系是（）
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X射線的強(qiáng)度與下面哪個(gè)參數(shù)有關(guān)（）
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在射線照相檢測(cè)中，當(dāng)提高射線能量時(shí)可能發(fā)生的是（）
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