A.對(duì)顏色的差別辨別能力提高
B.對(duì)比度的差別辨別能力降低
C.對(duì)光強(qiáng)度的微小差別不敏感
D.對(duì)光強(qiáng)度的微小差別敏感
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A.曝光不足
B.顯影溫度低
C.顯影液濃度過(guò)大
D.顯影液攪動(dòng)不及時(shí)
A.有顯像劑,有顯示
B.沒(méi)有顯像劑,有顯示
C.沒(méi)有顯像劑,無(wú)顯示
D.有顯像劑,無(wú)顯示
A.弧坑裂紋
B.焊趾裂紋
C.焊道下裂紋
D.根部裂紋
A.偏離
B.雙峰
C.擴(kuò)散
D.聚焦
A.凸膜對(duì)液體附加壓強(qiáng)指向液體內(nèi)部,為負(fù)
B.凸膜對(duì)液體附加壓強(qiáng)指向液體內(nèi)部,為正
C.凹膜對(duì)液體附加壓強(qiáng)指向液體外部,為負(fù)
D.凹膜對(duì)液體附加壓強(qiáng)指向液體外部,為正
最新試題
聚焦聲源發(fā)射的聲場(chǎng)特點(diǎn)是()。
滲透檢測(cè)工藝對(duì)顯像操作的要求有()。
與一次射線(xiàn)相比,散射線(xiàn)的()。
單晶體金屬特點(diǎn)有()。
化學(xué)反應(yīng)型著色滲透劑的特點(diǎn)是()。
滲透檢測(cè)時(shí),滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi),將受檢部位置于合適的光源(發(fā)光強(qiáng)度足夠)下檢查時(shí),下列說(shuō)法正確的有()。
潤(rùn)濕是受檢表面附著的氣體被滲透液體所取代的現(xiàn)象,發(fā)生潤(rùn)濕時(shí)()。
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭()。
顯影斑紋呈黑色條狀或?qū)拵?,在整張底片范圍出現(xiàn),其產(chǎn)生的原因是()。
表面波檢測(cè)中,利用表面波檢測(cè)()效果好。