在現(xiàn)場(chǎng)相同條件下（好天氣），用介損儀測(cè)量小電容試品的tgδ和Cx時(shí)，用正接線方法和反接線方法測(cè)量結(jié)果是完全相同的。

雙斷口的SF6系列斷路器有兩個(gè)斷口，為了使各個(gè)斷口在分、合閘時(shí)承受接近均等的電壓，一般用電容進(jìn)行均壓。

在現(xiàn)場(chǎng)采用介損儀測(cè)量設(shè)備的介損tgδ時(shí)，若存在電場(chǎng)干擾，則在任意測(cè)試電源極性的情況下，所測(cè)得tgδ值一定比真實(shí)的tgδ增大。

通過(guò)通過(guò)調(diào)整缺陷設(shè)備的運(yùn)行方式并不能使設(shè)備的缺陷降級(jí)，因?yàn)槿毕萑匀淮嬖凇?/p>

直流高壓試驗(yàn)采用高壓硅堆作整流元件時(shí)，高壓硅堆上的反峰電壓使用值不能超過(guò)硅堆的額定反峰電壓，其額定整流電流應(yīng)大于工作電流，并有一定的裕度。

通過(guò)負(fù)載試驗(yàn)可以發(fā)現(xiàn)變壓器油箱蓋或套管法蘭等損耗過(guò)大發(fā)熱的缺陷。

采用搖表（或接地電阻測(cè)試儀）由于輸出測(cè)試電流小，不用布放那么長(zhǎng)的電壓線和電流線。

超高頻局部放電試驗(yàn)?zāi)軌虬l(fā)現(xiàn)設(shè)備內(nèi)部發(fā)熱、放電及絕緣缺陷。

真空斷路器具有體積小、重量輕、維護(hù)工作量小等優(yōu)點(diǎn)，適用于超高壓系統(tǒng)。

GIS耐壓試驗(yàn)之前，進(jìn)行老化（凈化）試驗(yàn)的目的是：使設(shè)備中可能存在的活動(dòng)微粒雜質(zhì)遷移到低電場(chǎng)區(qū)，并通過(guò)放電燒掉細(xì)小微粒或電極上的毛刺、附著的塵埃，以恢復(fù)GIS絕緣強(qiáng)度，避免不必要的破壞或返工。