問答題設(shè)電子元件的壽命時(shí)間X(單位:h)服從參數(shù)λ=0.0015的指數(shù)分布,今獨(dú)立測(cè)試n=6個(gè)元件,記錄它們的失效時(shí)間。求沒有元件最后超過3000h的概率。

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