A、眾數(shù)
B、中位數(shù)
C、加權(quán)平均數(shù)
D、幾何平均數(shù)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、測(cè)量值=真實(shí)值+誤差
B、測(cè)量值=真實(shí)值-誤差
C、測(cè)量值=誤差-真實(shí)值
D、測(cè)量值=真實(shí)值/誤差
A、真實(shí)值
B、理論真值
C、相對(duì)誤差
D、真實(shí)誤差
A.歸納推理法
B.邏輯推理法
C.綜合分析法
D.類比推理法
A、隨機(jī)誤差
B、綜合誤差
C、系統(tǒng)誤差
D、粗大誤差
A、直接測(cè)量
B、間接測(cè)量
C、綜合測(cè)量
D、主體測(cè)量
最新試題
面談訪問(wèn)法要注意的問(wèn)題有()
一般來(lái)說(shuō),攔截訪問(wèn)和電話訪問(wèn)的時(shí)間長(zhǎng)度不超過(guò)30分鐘。
封閉式問(wèn)題的編碼適合()
以下對(duì)樣本容量的影響因素闡述正確的是()
問(wèn)卷本身應(yīng)有編號(hào),這樣便于在現(xiàn)場(chǎng)對(duì)問(wèn)卷進(jìn)行審核。
探索性調(diào)研的最主要特征是()
描述性市場(chǎng)調(diào)查通常被用于()
回歸預(yù)測(cè)的步驟依次是()
試點(diǎn)調(diào)查的目的在于對(duì)調(diào)查方案進(jìn)行實(shí)地的檢驗(yàn)。
試點(diǎn)調(diào)查是在正式的調(diào)查環(huán)境中選取小規(guī)模的符合標(biāo)準(zhǔn)的樣本進(jìn)行的試驗(yàn)性調(diào)查。