A.公稱(chēng)厚度:受檢工件名義厚度,不考慮材料制造偏差和加工減薄
B.焦距:沿射線(xiàn)束中心測(cè)定的工件受檢部位表面與膠片之間的距離
C.圓形缺陷:長(zhǎng)寬比小于或等于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷
D.小徑管:外直徑D0小于或等于100mm的管子
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A.雙壁單影透照像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)
B.當(dāng)像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)時(shí),應(yīng)在像質(zhì)計(jì)上適當(dāng)位置放置鉛字“F”作為標(biāo)記,“F”標(biāo)記影象應(yīng)與像質(zhì)計(jì)的標(biāo)記同時(shí)出現(xiàn)在底片上,且應(yīng)在檢測(cè)報(bào)告中注明
C.單壁透照時(shí)允許像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè),但必須進(jìn)行對(duì)比試驗(yàn)
D.當(dāng)一張膠片上同時(shí)透照多條焊接接頭時(shí),至少在第一條、中間一條和最后一條焊接接頭處各放一個(gè)置像質(zhì)計(jì)
A.X射線(xiàn)照相應(yīng)盡量選用較低的管電壓
B.γ射線(xiàn)照相時(shí),總的曝光時(shí)間應(yīng)不小于輸送源所需時(shí)間的10倍
C.X射線(xiàn)照相,當(dāng)焦距為700mm時(shí),曝光量的推薦值為:AB級(jí)不小于15mA.min
D.X射線(xiàn)照相在采用較高管電壓時(shí),應(yīng)保證適當(dāng)?shù)钠毓饬?/p>
A.電源電壓下降超過(guò)10%時(shí),黑光燈輸出功率將大大降低
B.電源電壓波動(dòng)超過(guò)10%時(shí),對(duì)人眼損傷較大
C.電源電壓過(guò)低嚴(yán)重影響檢測(cè)靈敏度
D.電源電壓過(guò)高嚴(yán)重影響黑光燈壽命
A.試塊清洗后,放在酒精溶液中保存
B.施加滲透劑可直接進(jìn)行刷涂
C.施加滲透劑不能用噴涂方法
D.熒光滲透檢測(cè)用試塊可用于著色滲透檢測(cè)
A.滲透檢測(cè)質(zhì)量分級(jí)考慮到了缺陷性質(zhì)、數(shù)量、尺寸和密集程度
B.圓形缺陷的分級(jí)既限定了單個(gè)缺陷最大尺寸,又限定了缺陷密集程度
C.焊接接頭不允許存在橫向線(xiàn)性缺陷顯示
D.評(píng)定框內(nèi)同時(shí)存在線(xiàn)性缺陷和圓形缺陷時(shí),應(yīng)進(jìn)行綜合評(píng)級(jí)
最新試題
發(fā)生康普頓散射的條件是()
探頭的分辨力()
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
康普頓效應(yīng)對(duì)射線(xiàn)檢測(cè)的影響包括()
光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化()
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
不同材料的相對(duì)吸收系數(shù)()
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷,一般采用()檢測(cè)。
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()