A.干式顯像劑應(yīng)對(duì)其比重進(jìn)行經(jīng)常校驗(yàn)
B.干式顯像劑應(yīng)經(jīng)常檢查粉末凝聚
C.干式顯像劑應(yīng)經(jīng)常檢查殘留熒光
D.干式顯像劑對(duì)工件無(wú)腐蝕
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A.A型對(duì)比試塊A、B試塊上具有細(xì)密相對(duì)稱(chēng)的裂紋圖形
B.A型對(duì)比試塊是淬火裂紋
C.B型試塊是輻射狀裂紋
D.B型試塊的材質(zhì)是鋁合金
A.Ⅱ級(jí)無(wú)損檢測(cè)人員復(fù)試不合格不能簽發(fā)檢測(cè)報(bào)告
B.Ⅱ級(jí)無(wú)損檢測(cè)人員復(fù)試申請(qǐng)初審由省級(jí)無(wú)損檢測(cè)考委會(huì)負(fù)責(zé)
C.Ⅱ級(jí)無(wú)損檢測(cè)人員跨省變更需國(guó)家質(zhì)檢總局審核批準(zhǔn)
D.Ⅱ級(jí)無(wú)損檢測(cè)人員資格證由國(guó)家質(zhì)檢總局簽發(fā)
A.無(wú)損檢測(cè)考委不得受聘于無(wú)損檢測(cè)器材經(jīng)銷(xiāo)商
B.被吊銷(xiāo)無(wú)損檢測(cè)資格證的Ⅱ級(jí)人員，可申請(qǐng)無(wú)損檢測(cè)Ⅰ級(jí)資格
C.考委會(huì)不得受理年滿60歲人員的取證考核申請(qǐng)
D.全國(guó)考委會(huì)可以主持特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)相關(guān)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的編制、修訂及評(píng)審工作
A.熒光滲透劑的熒光效率不得低于75%
B.被校驗(yàn)的滲透劑與基準(zhǔn)滲透劑的顏色濃度差超過(guò)20%時(shí)，應(yīng)作為不合格處理
C.滲透檢測(cè)劑包括滲透劑、清洗劑和顯像劑
D.滲透劑必須標(biāo)明生產(chǎn)日期和有效期，要有產(chǎn)品合格證和使用說(shuō)明書(shū)
A.堆焊層內(nèi)缺陷
B.氫剝離缺陷
C.堆焊層與母材未結(jié)合缺陷
D.堆焊層下母材再熱裂紋
最新試題
下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述，不正確的一項(xiàng)是（）
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí)，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響（）
某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）
康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括（）
對(duì)軸類(lèi)鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí)，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)（r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測(cè)的是（）
射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來(lái)，最主要的是決定于（）