A.應針對具體產品,有明確的工藝參數和技術要求;
B.涵蓋本單位產品的檢測范圍
C.符合產品標準、有關技術文件和JB/T4730標準要求
D.應有檢測記錄、報告、資料存檔和質量等級分類要求
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A.對接接頭中的缺陷按性質可分為裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷和圓形缺陷
B.質量等級是根據對接接頭中的缺陷性質、數量和密集程度來劃分的
C.小徑管的圓形缺陷評定區(qū)為10mm×10mm,評定區(qū)大小與母材公稱厚度無關
D.未焊透缺陷分級時,對斷續(xù)未焊透,以未焊透本身的長度累計計算總長度
A.底片評定范圍內的黑度規(guī)定與檢測技術等級有關
B.用X射線或γ射線透照小徑管時,AB級最低黑度允許降至1.5
C.采用多膠片方法時,單片觀察的的黑度應不低于1.3
D.若有計量報告證明觀片燈亮度滿足要求,可對D>4.0底片進行評定
A.放置在距焊縫5mm以內的部位
B.所有標記的影像不應重疊
C.所有標記均應放置在源側工件表面
D.不應有干擾有效評定范圍的影像
A.圓形缺陷評定區(qū)為一個與焊縫平行的矩形
B.在標準規(guī)定的條件下,各級別的圓形缺陷點數可放寬1~2點
C.當對接焊接接頭存在深孔缺陷時,其質量級別應評為Ⅳ級
D.質量等級為Ⅰ級和Ⅱ級對接焊接接頭,不計點數的缺陷在圓形缺陷評定區(qū)內不得多于10個,超過時對接焊接接頭質量等級應降低一級
A.透照厚度
B.焦距
C.黑度
D.顯影時間
最新試題
下列對耦合劑應該具有的特點的描述,不正確的一項是()
調節(jié)掃描速度時,應使()同時對準相應的水平刻度值。
以下試塊中,能用于測定縱波直探頭分辨力的是()
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
當射線穿透任何一物體時,部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構成該物的原子內電子向各方面散射,此散射為()
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測的是()
在工作中超聲波檢測儀屏幕上可能會出現()等信號波,需要仔細判別。
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關,觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
探頭的分辨力()
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關系是()