單探頭法容易檢出（）。

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。

儀器水平線性影響（）。

（）是影響缺陷定量的因素。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。

縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。

超聲檢測儀盲區(qū)是指（）。