A.標(biāo)識(shí)X射線
B.工業(yè)探傷γ源產(chǎn)生的射線
C.用來產(chǎn)生高對(duì)比度的窄束射線
D.由單一波長(zhǎng)的電磁波組成的射線
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A.質(zhì)量數(shù)相同而中子數(shù)不同的元素
B.質(zhì)量數(shù)相同而質(zhì)子數(shù)不同的元素
C.中子數(shù)相同而質(zhì)子數(shù)不同的元素
D.質(zhì)子數(shù)相同而質(zhì)量數(shù)不同的元素
A.質(zhì)子、電子、光子
B.質(zhì)子、重子、電子
C.光子、電子、X射線
D.質(zhì)子、中子、電子
A.標(biāo)識(shí)X射線
C.用來產(chǎn)生高對(duì)比度的窄束射線
B.工業(yè)探傷γ源產(chǎn)生的射線
D.由單一波長(zhǎng)的電磁波組成的射線
A.質(zhì)量數(shù)相同而中子數(shù)不同的元素;
B.質(zhì)量數(shù)相同而質(zhì)子數(shù)不同的元素;
C.中子數(shù)相同而質(zhì)子數(shù)不同的元素;
D.質(zhì)子數(shù)相同而質(zhì)量數(shù)不同的元素。
A.電荷
B.質(zhì)量
C.自旋
D.半衰期
最新試題
射線照相法適用于下列哪種檢測(cè)對(duì)象()
射線檢測(cè)存在一定的局限性,下面哪種說法是錯(cuò)誤的()
射線檢測(cè)裂紋和其與裂紋的角度的關(guān)系是()
同位素的含義是()
以下不適合用超聲波檢測(cè)的缺陷是()
為了提高橫向缺陷檢出率,射線照相應(yīng)該采取下列中的哪個(gè)措施()
在同樣的X射線管電流下,管電壓增加,則()
下列哪一項(xiàng)對(duì)射線照相有效透照范圍的影響最大()
下列關(guān)于X射線機(jī)的使用的描述不正確的是()
以下關(guān)于聲發(fā)射檢測(cè)的特點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()