A.掃描層厚
B.像素噪聲
C.重建算法
D.光子的數(shù)量
E.物體的大小
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A.計(jì)算機(jī)控制掃描、數(shù)據(jù)采集、圖像重建、顯示和存儲(chǔ)各個(gè)環(huán)節(jié)
B.探測(cè)器接收的信號(hào)需放大并經(jīng)過模/數(shù)轉(zhuǎn)換
C.模/數(shù)轉(zhuǎn)換后的數(shù)據(jù)為顯示數(shù)據(jù)
D.AP（陣列處理器）處理后的數(shù)據(jù)為顯示數(shù)據(jù)
E.圖像存儲(chǔ)包括拍片、磁盤及光盤存儲(chǔ)
A.計(jì)算機(jī)
B.陳列處理機(jī)
C.探測(cè)器
D.磁盤
E.照相機(jī)
A.準(zhǔn)直器決定X線束的寬度
B.準(zhǔn)直器決定掃描層面的厚度
C.準(zhǔn)直器可調(diào)為不同寬度
D.準(zhǔn)直器寬度的調(diào)整范圍根據(jù)不同CT性能而定
E.準(zhǔn)直器位于探測(cè)器的前端
A.掃描架、檢查床和X線發(fā)生系統(tǒng)
B.計(jì)算機(jī)和數(shù)據(jù)收集、陣列處理系統(tǒng)
C.操作臺(tái)和圖像顯示系統(tǒng)
D.獨(dú)立診斷臺(tái)和獨(dú)立計(jì)算機(jī)設(shè)備系統(tǒng)
E.照相機(jī)和其他用于資料的存儲(chǔ)設(shè)備
A.X線衰減后的強(qiáng)度與入射X線強(qiáng)度成正比，與所穿過物質(zhì)的密度及厚度成反比
B.X線衰減后的強(qiáng)度與入射X線強(qiáng)度成反比，與所穿過物質(zhì)的密度及厚度成正比
C.X線衰減后的強(qiáng)度與入射X線強(qiáng)度成正比，與所穿過物質(zhì)的密度及厚度成正比
D.X線衰減后的強(qiáng)度與入射X線強(qiáng)度成反比，與所穿過物質(zhì)的密度及厚度成反比
E.X線衰減后的強(qiáng)度與入射X線強(qiáng)度成反比，與所穿過物質(zhì)的密度成正比，與物質(zhì)的厚度成反比
A.穿透的物質(zhì)的厚度越厚，X線強(qiáng)度越低
B.穿過的物質(zhì)的厚度越厚，X線強(qiáng)度越高
C.穿過的物質(zhì)的密度越大，X線強(qiáng)度越高
D.穿過的物質(zhì)的密度越小，X線強(qiáng)度越低
E.初始X線強(qiáng)度越高，X線強(qiáng)度越低
A.圖像灰度反映了X線穿透組織的密度
B.是X線穿透路徑上所有結(jié)構(gòu)的重疊影
C.有一定的放大
D.X線強(qiáng)度過低時(shí)圖像的噪聲增加
E.伴影使影像模糊
A.窗寬規(guī)定了所顯示灰階的中心
B.窗寬規(guī)定了所顯示的CT值的范圍
C.通常CT機(jī)的窗寬都是可調(diào)節(jié)的
D.窗寬越大不同組織間的灰度對(duì)比越低
E.實(shí)際應(yīng)用時(shí)，選擇窗寬不包括所有組織的顯示范圍
A.表示一個(gè)橫豎排列的數(shù)字陣列
B.矩陣的大小表示單位面積像素?cái)?shù)量的多少
C.矩陣大，表明像素小，圖像的分辨率高
D.矩陣大，表明像素大，圖像的分辨率高
E.顯示矩陣是指圖像的排列陣列
A.窗寬規(guī)定了所顯示CT值的范圍
B.調(diào)節(jié)窗寬的大小可改變圖像中組織的密度對(duì)比
C.組織CT值大于窗寬規(guī)定的范圍時(shí)為全白密度
D.縮小窗寬使圖像中組織的密度對(duì)比縮小
E.通常窗寬除以16等于灰階包含的CT值
最新試題
常用CT圖像的測(cè)試力法中不包括：（）
準(zhǔn)直后穿過人體的X線經(jīng)探測(cè)器轉(zhuǎn)換所得到的數(shù)據(jù)，稱之為：（）
不屬于CT偽影的是：（）
螺旋CT與非螺旋CT的主要區(qū)別在于：（）
與圖像質(zhì)量無關(guān)的技術(shù)性能指標(biāo)是：（）
多平面重組的顯示形式?jīng)]有（）。
下列哪項(xiàng)不是電子束CT掃描的觸發(fā)方式：（）
CT值大于多少的對(duì)比度差稱為高對(duì)比度：（）
CT機(jī)的存儲(chǔ)器不包括：（）
CT成像是利用了X線的什么特性：（）