單項選擇題鈷60發(fā)射路徑上遇一1/2時厚鉛塊,劑量率會降低()。
A、1/3
B、1/4
C、1/2
D、3/4
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1.單項選擇題下列各項中不影響射線照片細(xì)節(jié)影像不清晰度的是()。
A、射線源尺寸
B、射線源到膠片距離
C、X射線能量
D、X射線強(qiáng)度
2.單項選擇題曝光過程中,試樣或膠片偶然移動或使用焦距變?。ǎ?/a>
A、產(chǎn)生射線照相底片對比度低
B、不可能檢出大缺陷
C、產(chǎn)生射線照相底片不清晰
D、產(chǎn)生發(fā)灰的射線照片
3.單項選擇題未曝光膠片儲存的最佳濕度要求是()。
A、35%~-60%之間
B、60%~90%之間
C、50%~75%之間
D、50%~60%之間
4.單項選擇題膠片與鉛箔增感屏一起放在暗盒中的時間過長,又曾處在高溫或高濕環(huán)境中,膠片可能()。
A、產(chǎn)生白色斑點
B、出現(xiàn)樹枝狀的輕微條痕
C、發(fā)生灰霧
D、藥膜脫落
5.單項選擇題未曝光的X射線膠片盒保存時應(yīng)()。
A、平放
B、直立
C、堆放
D、任意放置
最新試題
波束截面中心聲能(),隨著與中心的距離的增大,聲能()
題型:單項選擇題
缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的()
題型:單項選擇題
渦流探傷中平底盲孔缺陷對于管壁的()具有較好的代表性,因此在在役管材的渦流檢測中較多采用。
題型:單項選擇題
鑄件超聲檢測的特點是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射,相應(yīng)的可檢缺陷尺寸()
題型:單項選擇題
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展,出現(xiàn)了多種型號的同時具備探傷、電導(dǎo)率測量()測量功能的通用型儀器。
題型:單項選擇題
渦流檢測線圈的自感式線圈由()構(gòu)成。
題型:單項選擇題
渦流檢測線圈的互感線圈一般由()構(gòu)成。
題型:單項選擇題
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括()、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
題型:單項選擇題
各類渦流檢測儀器的()和結(jié)構(gòu)各不相同。
題型:單項選擇題
在遠(yuǎn)場區(qū),當(dāng)缺陷比聲束截面小時,缺陷波高與缺陷面積成()
題型:單項選擇題