A、波高
B、能量
C、持續(xù)時(shí)間
D、波幅高度
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、連續(xù)波
B、脈沖波
C、近場(chǎng)波
D、以上都不對(duì)
A、能量
B、波幅高度
C、持續(xù)時(shí)間
D、以上都對(duì)
A、連續(xù)波
B、脈沖波
C、近場(chǎng)波
D、以上都不對(duì)
A、振動(dòng)方程
B、反射定理
C、折射定理
D、壓電方程
A、X=Acos(ωt-φ)
B、X=Acos(ωt+φ)
C、X=Asin(ωt+φ)
D、X=Asin(ωt-φ)
最新試題
在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū),當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí),缺陷波高與缺陷面積成()
直接射向缺陷的波就是()
渦流檢測(cè)中的對(duì)比試樣的()和材質(zhì)相對(duì)被檢測(cè)產(chǎn)品必須具有代表性。
渦流檢測(cè)儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出()的相關(guān)信息。
掃查方式一般視試件的()而定。
磁性測(cè)厚技術(shù)包括機(jī)械式和()兩種測(cè)量方法。
根據(jù)檢測(cè)對(duì)象和目的的不同,渦流檢測(cè)儀器一般可分為()、渦流電導(dǎo)儀和渦流測(cè)厚儀三種。
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展,出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測(cè)量()測(cè)量功能的通用型儀器。
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束(),保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
波束截面中心聲能(),隨著與中心的距離的增大,聲能()