選擇滲透探傷方法時，對于疲勞裂紋、磨削裂紋及其它微小裂紋應(yīng)優(yōu)先選用（）

關(guān)于近場長度的說法，正確的是（）

散射比的大小與（）因素有關(guān)。

在射線照相時，像質(zhì)計應(yīng)放置在（）

檢查厚焊縫中沿熔合線方向的平面狀缺陷應(yīng)采用（）

半價層厚度與（）相關(guān)。

與直探頭相比，雙晶探頭（）

射線經(jīng)過一個半價層后，其（）衰減一半。

顯示試件某一縱斷面的聲象的顯示方式為（）

小口徑管道射線探傷時常采用（）方法透照。