與直探頭相比，雙晶探頭（）

表征平面圓晶片發(fā)射的超聲束特征的主要是（）

下列關(guān)于IIW試塊的說法，正確的是（）

底片干燥時，一般不得超過60℃，是因為（）

小口徑管道射線探傷時常采用（）方法透照。

化學(xué)清洗用于去除工件表面的（）

采用X射線機對某一工件探傷時，焦距為1m，曝光時間為6min，其余條件均不變，曝光時間改為3min時透照焦距應(yīng)改為（）

射線照像底片上產(chǎn)生黑色樹枝狀花紋的原因是（）

感應(yīng)電流法磁化工件主要采用（）

在近場以外的部分，即聲程大于3N的遠場區(qū)聲壓與距離的關(guān)系為（）