試點(diǎn)調(diào)查的目的在于對(duì)調(diào)查方案進(jìn)行實(shí)地的檢驗(yàn)。

問(wèn)卷的前言主要包括問(wèn)候語(yǔ)、填寫(xiě)說(shuō)明和問(wèn)卷編號(hào)。

量表式問(wèn)卷的主要優(yōu)點(diǎn)有（）

描述性市場(chǎng)調(diào)查通常被用于（）

問(wèn)卷的質(zhì)量水準(zhǔn)決定了數(shù)據(jù)的質(zhì)量水準(zhǔn)，因此問(wèn)卷設(shè)計(jì)的好壞對(duì)數(shù)據(jù)收集的有效性產(chǎn)生決定性影響。

試點(diǎn)調(diào)查法中的調(diào)查方法和調(diào)查方式一旦確定不可輕易更改。

二次移動(dòng)平均預(yù)測(cè)法適合的歷史數(shù)據(jù)類型是（）

面談訪問(wèn)法要注意的問(wèn)題有（）

回歸預(yù)測(cè)的步驟依次是（）

封閉式問(wèn)卷可以使被調(diào)查者向調(diào)查者提供充分的數(shù)據(jù)信息。