A.計點(diǎn)和計量
B.計件和計點(diǎn)
C.計數(shù)和計量
D.計數(shù)和序貫
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A.p0，p1值(P0<p1)應(yīng)由供需雙方協(xié)商決定
B.確定p0時，應(yīng)考慮不合格或不合格品類別及其對顧客損失的嚴(yán)重程度
C.p1的選取，一般應(yīng)使p1與p0拉開一定的距離，即要求p1>p0，IEC推薦p1/p0一般取1.5，2.0或3.0
D.P1/P0的控制有一定。p1/P0過小，放松對質(zhì)量的要求，對使用方不利，但p1/P0過大會增加抽檢產(chǎn)品的數(shù)量，使檢驗(yàn)費(fèi)用增加
E.A類不合格或不合格品的p0值要選得比B類的要大；而B類不合格或不合格品的p0值又應(yīng)選得比C類的要小
A.分層抽樣法
B.系統(tǒng)抽樣法
C.類型抽樣法
D.簡單隨機(jī)抽樣法
E.計數(shù)標(biāo)準(zhǔn)型抽樣方案
A.判斷下批產(chǎn)品是否接收
B.分析過程不合格品率的波動情況
C.估計過程平均不合格品率
D.分析產(chǎn)品主要質(zhì)量問題
E.分析產(chǎn)生產(chǎn)品質(zhì)量問題的主要原因
A.一次抽樣最強(qiáng)
B.多次抽樣最強(qiáng)
C.基本一致
D.二次抽樣最強(qiáng)
A. AOQL
B. AQL
C. ATI
D. ASN
E. LQ
最新試題
計數(shù)標(biāo)準(zhǔn)型抽樣檢驗(yàn)中，確定抽檢方案的基本要素是p0，p1，關(guān)于p0，p1值(p0
特殊檢驗(yàn)水平主要用于（）。
評價抽樣方案經(jīng)濟(jì)性的指標(biāo)有（ ?。?。
（）是從一個可以分成不同子總體(或稱為層)的總體中，按規(guī)定的比例從不同層中隨機(jī)抽取樣品(個體)的方法。這種抽樣方法的優(yōu)點(diǎn)是樣本的代表性比較好，抽樣誤差比較小；缺點(diǎn)是抽樣手續(xù)較簡單隨機(jī)抽樣還要復(fù)雜些。
某電子產(chǎn)品經(jīng)檢驗(yàn)后才能出廠，其合格率應(yīng)不小于95%?，F(xiàn)隨機(jī)抽取100個檢驗(yàn)，發(fā)現(xiàn)有7個不合格品，問該批產(chǎn)品能否出廠（）。(取α＝0.05)
當(dāng)使用方在采購產(chǎn)品時，對交檢批提出的質(zhì)量要求為Pt=1％，則有（）。
整群抽樣法的優(yōu)點(diǎn)是（）。
用抽樣方案（30，0）對產(chǎn)品批進(jìn)行連續(xù)驗(yàn)收，當(dāng)批不合格品率為1%時，方案的接收概率為73．97%，則平均檢出質(zhì)量為（）。
簡單隨機(jī)抽樣的缺點(diǎn)是（）。
在其他情況相同的條件下，抽樣類型不同的抽樣方案質(zhì)量保證能力是（）。