A.方波測(cè)試卡曝光,微密度計(jì)掃描法
B.狹縫曝光,微密度計(jì)掃描法
C.刃邊曝光,微密度計(jì)掃描法
D.感光儀曝光,微密度計(jì)掃描法
E.時(shí)間階段曝光法,微密度計(jì)掃描法
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.基層
B.熒光體層
C.保護(hù)層
D.反射層或吸收層
E.乳劑層
A.250nm
B.350nm
C.450nm
D.550nm
E.650nm
A.巴爾金定位法
B.角膜緣定位環(huán)法
C.吸盤式定位器法
D.垂直校正位法
E.無(wú)骨位攝影法
A.物-片距與普通攝影的物-片距相等
B.X線曝光劑量與普通攝影相同
C.X線曝光量應(yīng)小于普通攝影
D.焦點(diǎn)大小決定最大允許放大率
E.具有將低頻信號(hào)轉(zhuǎn)成高頻信號(hào)的能力
A.聽(tīng)眶線與暗盒呈37°角
B.聽(tīng)眥線與暗盒呈37°角
C.昕口線與暗盒呈37°角
D.聽(tīng)鼻線與暗盒呈37°角
E.聽(tīng)眉線與暗盒呈37°角
最新試題
與X線焦點(diǎn)模糊、半影無(wú)關(guān)的是()。
X線攝影中,減少到達(dá)被照體之前的焦點(diǎn)外射線的最有效方法是()。
關(guān)于層厚的描述,錯(cuò)誤的是()。
減少X線量的方法是()。
CT機(jī)有兩種不同的數(shù)據(jù)采集方法,一種是一層一層即逐層采集法(序列掃描),另一種是容積數(shù)據(jù)采集法(螺旋掃描),目前仍基本采用序列掃描的檢查部位是()。
與CT檢查掃描偽影產(chǎn)生無(wú)關(guān)的是()。
目前,測(cè)量顆粒度最常用的方法是()。
焦點(diǎn)允許放大率計(jì)算公式:M=1+H/F=1+0.2/F中,F(xiàn)是指()。
加有一層很薄的鉛合金箔以減少散射線影響的增感屏是()。
膠片物理性能不包括()。