單項(xiàng)選擇題金屬板材采用渦流探傷時(shí),應(yīng)選擇()。

A.快速掃描的點(diǎn)探頭和多通道探傷儀器
B.穿過式探頭和多通道探傷儀器
C.內(nèi)插式探頭和單通道探傷儀器
D.混合式探頭和多通道探傷儀器


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1.單項(xiàng)選擇題直徑小于Φ0.1mm的金屬細(xì)絲渦流探傷所用的激勵(lì)頻率約是()。

A.幾十兆周
B.幾百千周
C.幾千周
D.幾百周

2.單項(xiàng)選擇題從原理上看,用于鋼管和用于有色管的渦流探傷儀的結(jié)構(gòu)和性能(除磁飽和以外)()。

A.根本不同
B.基本相同
C.有一點(diǎn)相同
D.大部分不同

3.單項(xiàng)選擇題幅度鑒別器可用來抑制的噪聲是()。

A.任意幅度的
B.幅度大于缺陷信號(hào)的
C.幅度小于缺陷信號(hào)的
D.幅度等于缺陷信號(hào)的

4.單項(xiàng)選擇題相敏檢波器主要只能抑制掉()。

A.一個(gè)干擾噪聲
B.二個(gè)干擾噪聲
C.三個(gè)干擾噪聲
D.多個(gè)干擾噪聲

5.單項(xiàng)選擇題在用旋轉(zhuǎn)點(diǎn)探頭對(duì)棒材進(jìn)行探傷中,容易漏檢的傷是()。

A.軸向深度均勻的長(zhǎng)傷
B.凹坑
C.深度均勻的環(huán)狀傷
D.起皮

最新試題

X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報(bào)告,復(fù)查無遺留問題方可進(jìn)行試壓。

題型:判斷題

為了提高射線照相對(duì)比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。

題型:判斷題

超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請(qǐng)、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測(cè)。

題型:判斷題

X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對(duì)需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。

題型:判斷題

觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。

題型:判斷題

對(duì)焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定,檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn),檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請(qǐng)單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn),否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。

題型:判斷題

廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集,定期送指定的機(jī)構(gòu)處理。

題型:判斷題

X射線探傷室應(yīng)建立健全輻射安全管理制度及應(yīng)急預(yù)案。

題型:判斷題

X射線檢測(cè)圖像直觀、缺陷定性準(zhǔn)確,因此焊接缺陷無論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測(cè)。

題型:判斷題

底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。

題型:判斷題