單項選擇題()不是常用的衰減測試方法。

A.剪斷法
B.光纜熔接機(jī)法
C.插入法
D.OTDR


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1.單項選擇題在單盤測試中,()不屬于光特性測試。

A.單盤光纜長度測試
B.單盤光纜的后項散射曲線測試
C.中繼段衰減測試
D.單盤光纜的折射率測試

2.單項選擇題在光纖連接損耗現(xiàn)場監(jiān)測時,()只能得到一個估算值。

A.熔接機(jī)監(jiān)測
B.OTDR監(jiān)測
C.光源和光功率計測量
D.遠(yuǎn)端環(huán)回雙向監(jiān)測

3.單項選擇題下列哪項因素不會影響光纖得連接損耗()

A.光纖模場直徑相同
B.待熔接光纜的間隙不當(dāng)
C.光纖軸向錯位
D.光纖端面不完整

4.單項選擇題纖芯折射率n1隨著纖芯半徑加大而逐漸減小,而包層中的折射率n2是均勻的,這種光纖稱為()。

A.漸變型光纖
B.階躍型光纖
C.弱導(dǎo)波光纖
D.單模光纖

5.單項選擇題光纖按照ITU-T建議分類,描述不正確的是()。

A.G.651光纖稱為漸變型多模光纖
B.G.652稱為普通單模光纖或1.31μm性能最佳單模光纖
C.G.653稱為零色散位移光纖
D.G.655稱為非零色散位移光纖