底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。

利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時，適用的工件厚度為（）。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

超聲檢測儀盲區(qū)是指（）。

測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。

關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯誤的是（）。

超聲波儀時基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。

（）是影響缺陷定量的因素。