A.原材料缺陷
B.鍛造缺陷
C.熱處理缺陷
D.以上都有
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A.加熱、形變、成型和冷卻
B.加熱、形變
C.形變、成型
D.以上都不全面
A.盲區(qū)增大
B.聲束在管中折射發(fā)散
C.多種波形傳播
D.回波脈沖變寬
A.探傷速度較快
B.回波幅度隨缺陷長(zhǎng)度增大而增高
C.聚焦方法一般采用圓柱面透鏡或瓦片型鏡片
D.以上全部
A.對(duì)短缺陷有較高探測(cè)靈敏度
B.聚焦方法一般采用圓柱面聲透鏡
C.缺陷長(zhǎng)度達(dá)到一定尺寸后，回波幅度不隨長(zhǎng)度而變化
D.探傷速度較慢
A.探頭楔塊
B.管材中的縱、橫波聲速
C.管子的規(guī)格
D.以上全部
最新試題
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱(chēng)為缺陷的（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
儀器水平線性影響（）。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。