單項(xiàng)選擇題采用聲透鏡方式制作聚焦探頭時(shí),設(shè)透鏡材料為介質(zhì)1,欲使聲束在介質(zhì)2中聚焦,選用平凹透鏡的條件是()

A、Z1>Z2
B、C1<C2
C、C1>C2
D、Z1<Z2


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1.單項(xiàng)選擇題以下關(guān)于爬波探頭的敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()

A.爬波探頭的外形和結(jié)構(gòu)與橫波斜探頭類似
B.當(dāng)縱波入射角大于或等于第二臨界角時(shí),在第二介質(zhì)中產(chǎn)生爬波
C.爬波用于探測(cè)表層缺陷
D.爬波探測(cè)的深度范圍與頻率f和晶片直徑D有關(guān)

2.單項(xiàng)選擇題下列壓電晶體中哪一種做高頻探頭較為適宜()

A.鈦酸鋇(CL=5470m/s)
B.鈦酸鋰(CL=7400m/s)
C.PZT(CL=4400m/s)
D.鈦酸鉛(CL=4200m/s)

3.單項(xiàng)選擇題下面哪種壓電材料最適宜制作高分辨率探頭:()

A.石英
B.鋯鈦酸鉛
C.偏鈮酸鉛
D.鈦酸鋇

4.單項(xiàng)選擇題下面哪種材料最適宜做高溫探頭:()

A.石英
B.硫酸鋰
C.鋯鈦酸鉛
D.鈮酸鋰

5.單項(xiàng)選擇題聯(lián)合雙直探頭的最主要用途是:()

A.探測(cè)近表面缺陷
B.精確測(cè)定缺陷長(zhǎng)度
C.精確測(cè)定缺陷高度
D.用于表面缺陷探傷

最新試題

()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題