單項(xiàng)選擇題在X射線譜圖上，當(dāng)射線管中的電子能量達(dá)到足以將靶原子核內(nèi)層電子擊出軌道時(shí)，則譜圖上出現(xiàn)（）。
A.連續(xù)X射線譜形
B.特征X射線譜形
C.連續(xù)和特征X射線譜形
D.以上都不是
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1.單項(xiàng)選擇題X光機(jī)額定管電壓為300kV，該機(jī)最高工作電壓為（）。
A.300kV峰值
B.300kV平均值
C.300kV有效值
D.300kV均方根值
2.單項(xiàng)選擇題設(shè)寬束X射線貫穿物體后，在某一點(diǎn)所接收到的射線總強(qiáng)度為Ip=I+Is，則散射比為（）。
A.Is/I
B.Is/Ip
C.I/Is
D.Ip/Is
3.單項(xiàng)選擇題實(shí)際探傷中，所用X射線束是（）。
A.單色窄線束
B.連續(xù)標(biāo)識X線束
C.寬束連續(xù)X線束
D.A、B和C
4.單項(xiàng)選擇題美國ASTM、ASME透度計(jì)2-1T號的等效靈敏度為（）。
A.1.0%
B.1.4%
C.2.0%
D.0.7%
5.單項(xiàng)選擇題線形透度計(jì)應(yīng)放在（）。
A.遠(yuǎn)離射線源一側(cè)的工件表面上
B.靠近射線源一側(cè)的工件表面上
C.膠片暗盒表面上
D.A、B和C
最新試題
聚焦聲源發(fā)射的聲場特點(diǎn)是（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
Z 超聲波檢測鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
冷裂紋常見的有（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
無損檢測設(shè)備、材料采購驗(yàn)收內(nèi)容包括（）驗(yàn)收。
題型：多項(xiàng)選擇題
用雙晶探頭檢測時(shí)，為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度，檢測細(xì)長缺陷應(yīng)使探頭（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
關(guān)于波束未擴(kuò)散區(qū)，說法正確的是（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
磁場信號測量中可采用（）方法。
題型：多項(xiàng)選擇題
超聲波探傷儀要盡量避免在（）場合使用。
題型：多項(xiàng)選擇題
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用（）填補(bǔ)工件的較薄部分，使透照厚度差減小的方法。
題型：多項(xiàng)選擇題
超聲波檢測發(fā)現(xiàn)缺陷，在不同的方向上檢測，缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài)，判定為（）。
題型：多項(xiàng)選擇題