單項(xiàng)選擇題斜探頭主聲束水平偏斜角的測(cè)量,應(yīng)在CSK-IA標(biāo)準(zhǔn)試塊()厚的表面上測(cè)量。
A.20mm
B.25mm
C.91mm
D.100mm
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1.單項(xiàng)選擇題垂直線性誤差測(cè)試,使用2.5P20Z直探頭和()型標(biāo)準(zhǔn)試塊。
A.CS-1-5
B.TCS-R試塊
C.CS-1試塊
D.CSK-1A
2.單項(xiàng)選擇題水平線性誤差測(cè)試,使用2.5P20Z直探頭或()型標(biāo)準(zhǔn)試塊。
A.CS-1-5
B.TCS-R試塊
C.CS-1試塊
D.CSK-1A
3.單項(xiàng)選擇題垂直線性誤差測(cè)量時(shí),用增益或衰減器降低參照波的幅度,并依次記下每衰減2dB時(shí)參照波幅度的讀數(shù),直至衰減()以上。
A.20dB
B.24dB
C.26dB
D.28dB
4.單項(xiàng)選擇題垂直線性誤差測(cè)量時(shí),增益或衰減器至少有()的調(diào)節(jié)余量。
A.20dB
B.30dB
C.35dB
D.40dB
5.單項(xiàng)選擇題超聲探傷系統(tǒng)的組合性能:靈敏度余量用()測(cè)量。
A.CS-1試塊
B.CSK-1A試塊
C.TCS-R試塊
D.CS-1-5試塊
最新試題
不同材料的相對(duì)吸收系數(shù)()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()
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某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
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調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
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以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測(cè)的是()
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對(duì)于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
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對(duì)軸類鋼制鍛件,用2.5P14的直探頭,在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí),該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于()
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物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題