A.fo
B.SPAN；
C.TRACE；
D.RefLvl
E.VerticalScale

A.首先需要了解問(wèn)題站點(diǎn)的FNE，然后了解天面情況，了解有問(wèn)題的那個(gè)小區(qū)的天饋系統(tǒng)
B.準(zhǔn)備好測(cè)試設(shè)備
C.需要先判斷異常干擾的來(lái)源，是外部系統(tǒng)產(chǎn)生的，還是自身系統(tǒng)產(chǎn)生的，或者是內(nèi)外系統(tǒng)共同作用產(chǎn)生的
D.對(duì)對(duì)于外部干擾，可能是同一個(gè)天面或者附近天面上其他運(yùn)營(yíng)商的基站或者本運(yùn)營(yíng)商其他的基站發(fā)來(lái)的，也有可能是一些微波源或者其他電磁設(shè)備發(fā)來(lái)的。當(dāng)確認(rèn)了干擾源后，采取相應(yīng)的解決方法
E.對(duì)于內(nèi)部干擾，檢查是否沒(méi)有加RejectionFilter，如果沒(méi)有加就加上。如果是共天饋系統(tǒng)，由于2G小區(qū)往往有多個(gè)頻點(diǎn)，檢查這些頻點(diǎn)的三階互條產(chǎn)物是否落到3G頻段內(nèi)。如果互調(diào)產(chǎn)物落到了3G頻段，嘗試通過(guò)修改頻點(diǎn)，看看RTWP是否正常了，如果正常，那么說(shuō)明RTWP是2G頻點(diǎn)互調(diào)產(chǎn)生的，否則需要檢查其他原因。內(nèi)部系統(tǒng)的干擾很多情況下是天饋器件出問(wèn)題引起的，需要檢查有問(wèn)題的小區(qū)的天饋系統(tǒng)，可以采用PIM測(cè)試方法.
F.對(duì)于內(nèi)外系統(tǒng)相互作用產(chǎn)生的干擾，檢查內(nèi)部系統(tǒng)的頻點(diǎn)與外部信號(hào)頻點(diǎn)是否互調(diào)了，比如對(duì)于共站址共天饋系統(tǒng)，檢查2G的頻點(diǎn)與其他運(yùn)營(yíng)商附近天線的頻點(diǎn)是否互調(diào)產(chǎn)物落在了使用的3G頻段內(nèi)，檢查周?chē)沫h(huán)境，是否存在很強(qiáng)的反射散射，周?chē)欠裼泻艽蟮慕饘傥矬w，如果是2G頻點(diǎn)與其他運(yùn)營(yíng)商頻點(diǎn)互調(diào)了，通過(guò)修改頻點(diǎn)看看能夠解決。

A.關(guān)掉2G基站
B.關(guān)掉3G基站
C.把2G的天線換成匹配負(fù)載，屏蔽外來(lái)信號(hào)。
D.為2G小區(qū)配置合適的頻點(diǎn)
E.2G基站設(shè)置成CW狀態(tài)，發(fā)射CW信號(hào)，本文的CW是指2G信號(hào)發(fā)射固定的一個(gè)BCCH信號(hào)，沒(méi)有用戶
F.敲打天饋系統(tǒng)的各個(gè)部件，如果敲打某個(gè)部件時(shí)，RTWP變化很大，那么這個(gè)期間很有可能有問(wèn)題，修理或者替換這個(gè)部件，然后重新做PIM測(cè)試

A.Kathrain 793423
B.ALLGON 9315.01
C.RFS FDDW 5504/2S-1
D.Kathrain 793424
E.RFS FDDW 5504/2D-1

A.檢查天饋器件。對(duì)于松動(dòng)的連接頭，把他們擰緊，對(duì)于壞掉或者老化了的器件，進(jìn)行更換，對(duì)于破了的饋纜進(jìn)行更換，對(duì)于彎曲過(guò)大的饋線，減少它們的彎曲弧度。對(duì)于性能指標(biāo)低的器件，換用性能指標(biāo)高的器件
B.修改天線工程參數(shù)，比如改變天線位置、方向角等方法，降低異系統(tǒng)之間的相互干擾
C.增加RejectionFilter，降低異系統(tǒng)的雜散信號(hào)或者互調(diào)信號(hào)對(duì)WCDMA的影響
D.修改頻點(diǎn)