（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。

底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

（）是影響缺陷定量的因素。

超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

單探頭法容易檢出（）。

超聲檢測儀盲區(qū)是指（）。

（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標準來確定。

關(guān)于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。

當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。