A、材料被磁化的難易程度
B、磁場(chǎng)穿透材料的能力
C、檢測(cè)最小缺陷的能力
D、以上都是
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A.斷點(diǎn)相位控制器
B.整流器
C.快速斷電裝置
A.交流電
B.直流電
C.半波整流
D.三相全波整流
E.以上都是
A.方法與檢測(cè)表面裂紋相類似
B.如果缺陷是由細(xì)小的氣孔組成的,就不難檢出
C.如果缺陷的寬度可以估計(jì)出來,檢測(cè)就很簡(jiǎn)單
D.磁粉探傷方法很難檢查出來
A.受腐蝕的表面
B.陽(yáng)極化的表面
C.涂漆的表面
D.a和c
A.剩磁法探傷中檢查任意取向上表面缺陷最好的方法
B.給工件通以直流電并同時(shí)施加交流磁場(chǎng)的磁化方法
C.利用改變兩個(gè)直流磁場(chǎng)之間的夾角獲得擺動(dòng)磁場(chǎng)或旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng)的一種方法
D.以上都不對(duì)
最新試題
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
儀器水平線性影響()。
單探頭法容易檢出()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
()是影響缺陷定量的因素。