A.只要是紫外線都適用于熒光磁粉檢測(cè)
B.只有波長(zhǎng)范圍在100～280nm的紫外線適用于熒光磁粉檢測(cè)
C.只有波長(zhǎng)范圍在280～320nm的紫外線適用于熒光磁粉檢測(cè)
D.只有波長(zhǎng)范圍在320～400nm的紫外線適用于熒光磁粉檢測(cè)
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A.直接通電磁化時(shí)，與電流方向垂直的缺陷最容易檢出
B.直接通電磁化時(shí)，與電流方向平行的缺陷最容易檢出
C.直接通電磁化時(shí)，產(chǎn)生周向磁場(chǎng)任何方向的缺陷均可檢出
D.直接通電磁化時(shí)，近表面的缺陷容易檢出
A.右手定則
B.電磁感應(yīng)定律
C.環(huán)路安培定律
D.磁路定律
A.工件的磁場(chǎng)強(qiáng)度
B.缺陷埋藏的深度
C.缺陷內(nèi)的介質(zhì)
D.磁化的磁場(chǎng)強(qiáng)度與材料的磁導(dǎo)率
A.重力
B.慣性力
C.摩擦力
D.磁力
A.電流方向與缺陷方向一致
B.磁場(chǎng)方向與缺陷垂直
C.磁場(chǎng)平行于缺陷方向
D.形成的磁感應(yīng)強(qiáng)度大
最新試題
磁粉檢測(cè)常用的紅磁粉其成分是（）
電流通過(guò)無(wú)限長(zhǎng)直導(dǎo)體時(shí)，下列有關(guān)導(dǎo)體外磁場(chǎng)強(qiáng)度的敘述錯(cuò)誤的是（）
關(guān)于鐵磁質(zhì)的敘述，正確的是（）
國(guó)際單位制磁通量單位韋伯與非法定單位制麥克斯偉之間的換算關(guān)系是（）
下列關(guān)于發(fā)紋和裂紋缺陷磁痕顯示區(qū)別方法的描述中，正確的是（）
剩磁法的檢測(cè)工藝程序是（）
磁場(chǎng)強(qiáng)度足夠的磁化規(guī)范可通過(guò)下列哪種方法來(lái)確定（）
銀、銅、汞等金屬屬于（）介質(zhì)。
下面有關(guān)材料性能與磁特性的關(guān)系敘述中，哪條是錯(cuò)誤的（）
觸頭法磁粉檢測(cè)使用的安培數(shù)依據(jù)什么確定（）