A.線圈內(nèi)緣;
B.線圈外緣;
C.線圈中心;
D.線圈端頭
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A.H=I/2πr;
B.H=2πr/I;
C.H=2π/Ir;
D.H=2r/πI
A.高斯;
B.亨利;
C.法拉;
D.安培
A.電流:符號-I,單位-安培;
B.磁導(dǎo)率:符號-μ,單位-亨利/米;
C.磁通密度:符號-B,單位-高斯,國際單位制單位-特斯拉;
D.磁場強(qiáng)度:符號-H,單位-奧斯特,國際單位制單位-安/米;
E.以上都對
A.電場強(qiáng)度;
B.磁感應(yīng)強(qiáng)度;
C.磁場強(qiáng)度;
D.磁通量
A.電場強(qiáng)度;
B.磁感應(yīng)強(qiáng)度;
C.磁場強(qiáng)度;
D.磁通量
最新試題
在黑光燈下檢查熒光磁懸液的載液發(fā)出明顯的熒光,即可判定磁懸液污染。
在不退磁的情況下,周向磁化產(chǎn)生的剩磁比縱向磁化產(chǎn)生的剩磁有更大的危害性。
材料磁導(dǎo)率低(剩磁大)及直流磁化后,退磁磁場換向的次數(shù)(退磁頻率)應(yīng)較多,每次下降的磁場值應(yīng)較小,且每次停留的時間(周期)要略長。
用連續(xù)法檢測時,檢測靈敏度不僅與被檢工件表面磁場強(qiáng)度有關(guān),還受被檢工件材質(zhì)的影響。
工件的退磁效果一般可用剩磁檢查儀或磁場強(qiáng)度計測定。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:剩磁應(yīng)不大于0.3mT(240A/m)。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:當(dāng)辯認(rèn)細(xì)小缺陷磁痕時應(yīng)用2~10倍放大鏡進(jìn)行觀察。
相關(guān)顯示是由漏磁場吸附磁粉形成的磁痕顯示。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:磁粉檢測時一般應(yīng)選用A1-60/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。
磁粉檢測—橡膠鑄型法是采用連續(xù)法檢測。