A.射源尺寸;
B.射源到缺陷的距離;
C.缺陷到膠片的距離;
D.缺陷相對于射源和膠片的位置和方向
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A.源尺寸;
B.膠片感光度;
C.膠片粒度;
D.射線能量。
A.選用焦點較大射源;
B.使用感光速度較快的膠片;
C.增大射源到膠片的距離;
D.增大工件到膠片的距離。
A.射源到膠片的距離;
B.膠片到工件的距離;
C.射源的強度;
D.射源的尺寸。
A.固有不清晰度
B.幾何放大
C.照相失真
D.半影
A.主因?qū)Ρ榷龋?br />
B.顆粒度;
C.清晰度;
D.膠片對比度。
最新試題
一次完整的補焊過程中缺陷是否排除X光透照確認可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。
探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進行應(yīng)立即()。
為了提高射線照相對比度,可以采用高電壓、短時間、大管電流的方式曝光。
焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求,經(jīng)表面檢驗合格,申請單無需檢驗蓋章確認。
X射線檢驗人員負責(zé)對需排除的超標(biāo)缺陷實施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。
缺陷分類應(yīng)符合驗收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗范疇的缺陷,必要時可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。
對含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()
對于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫,采用的透照方式為()。
射線檢測最有害的危險源是(),必須嚴(yán)加控制。