A、未焊透
B、未熔合
C、裂紋
D、夾渣
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A、在舊的顯影液中顯影時(shí)間過長(zhǎng)
B、底片儲(chǔ)存時(shí)暴露于自然宇宙線中
C、由摩擦產(chǎn)生的靜電引起
D、定影后水洗不當(dāng)引起
A、定影不均勻
B、顯影不均勻
C、底片折疊引起
D、靜電所產(chǎn)生
A、錯(cuò)誤顯示
B、無(wú)關(guān)顯示
C、有關(guān)顯示
D、缺陷
A、規(guī)范
B、接受基準(zhǔn)
C、經(jīng)由底片反射的光線
D、與設(shè)計(jì)圖或?qū)嵨飳?duì)照
A、曝光時(shí)試件上的電焊濺渣
B、底片顯影前被定影液濺污
C、底片被顯影液濺污
D、底片被水濺污
最新試題
小口徑管道射線探傷時(shí)常采用()方法透照。
焊縫超聲波探傷時(shí),當(dāng)探頭作定點(diǎn)轉(zhuǎn)動(dòng)或環(huán)繞運(yùn)動(dòng)是為了()
采用X射線機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí),焦距為1m,曝光時(shí)間為6min,其余條件均不變,曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為()
在近場(chǎng)以外的部分,即聲程大于3N的遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)聲壓與距離的關(guān)系為()
下列關(guān)于IIW試塊的說法,正確的是()
底片干燥時(shí),一般不得超過60℃,是因?yàn)椋ǎ?/p>
射線照像底片產(chǎn)生黃色灰霧,其原因是()
焊縫斜探頭探傷時(shí)儀器示波屏?xí)r間軸按1:1調(diào)整后,其始波前沿()
脈沖反射法A型顯示取得缺陷信息是根據(jù)()
選擇滲透探傷方法時(shí),對(duì)于疲勞裂紋、磨削裂紋及其它微小裂紋應(yīng)優(yōu)先選用()