A、試件的材質(zhì)
B、射線的能譜
C、散射線的分布
D、毫分分或居里分
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你可能感興趣的試題
A、射線的波長(zhǎng)
B、散射線
C、工件的厚度差
D、以上都是
A、正比
B、反比
C、平方正比
D、平方反比
A、射線照片上影像的對(duì)比度決定了在垂直于射線透照方向上可識(shí)別的細(xì)節(jié)尺寸
B、射線照片上影像的不清晰度決定了沿射線透照方向上可識(shí)別的細(xì)節(jié)尺寸
C、射線照片上影像的顆粒度決定了影像可記錄的細(xì)節(jié)最小尺寸
D、以上都對(duì)
A、射線照片上影像的對(duì)比度決定了沿射線透照方向上可識(shí)別的細(xì)節(jié)尺寸
B、射線照片上影像的不清晰度決定了在垂直于射線透照方向上可識(shí)別的細(xì)節(jié)尺寸
C、射線照片上影像的顆粒度決定了影像可記錄的細(xì)節(jié)最小尺寸
D、以上都對(duì)
A、選用可能的較低能量的射線透照
B、采取各種措施減少到達(dá)膠片的散射線強(qiáng)度
C、選用質(zhì)量?jī)?yōu)良的膠片和采用良好的暗室處理技術(shù)
D、以上都是
最新試題
采用X射線機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí)，焦距為1m，曝光時(shí)間為6min，其余條件均不變，曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為（）
下列關(guān)于IIW試塊的說(shuō)法，正確的是（）
脈沖反射法A型顯示取得缺陷信息是根據(jù)（）
關(guān)于圓晶片輻射的超聲波，下列說(shuō)法正確的是（）（S為傳播距離，N為近場(chǎng)長(zhǎng)度）。
焊縫超聲波探傷時(shí)，當(dāng)探頭作定點(diǎn)轉(zhuǎn)動(dòng)或環(huán)繞運(yùn)動(dòng)是為了（）
表征平面圓晶片發(fā)射的超聲束特征的主要是（）
底片干燥時(shí)，一般不得超過(guò)60℃，是因?yàn)椋ǎ?/p>
焊縫斜探頭探傷時(shí)儀器示波屏?xí)r間軸按1：1調(diào)整后，其始波前沿（）
關(guān)于聲波的指向性和指向角，正確的是（）
下列磁化方法中容易計(jì)算工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度的是（）