單項(xiàng)選擇題射線檢測(cè)方法分為（）。

A. Ｘ射線檢測(cè)
B. γ射線檢測(cè)
C. 中子射線檢測(cè)
D. 以上都是


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1.單項(xiàng)選擇題鍛件探傷中，引起底波降低或消失的原因有（）。

A. 探頭接觸不良
B. 遇到了材質(zhì)衰減大的部位
C. 工件底面不平整
D. 以上都對(duì)

2.單項(xiàng)選擇題方形鍛件垂直法探傷時(shí)，熒光屏上出現(xiàn)一游動(dòng)缺陷回波，其波幅較低但底波降低很大。該缺陷取向可能是（）。

A. 平行且靠近探測(cè)面
B. 與聲速方向平行
C. 與探測(cè)面成較大角度
D. 平行且靠近底面

3.單項(xiàng)選擇題鍛件接觸法探傷中，如果探傷儀的“重復(fù)頻率”調(diào)得過(guò)高，可能發(fā)生（）。

A. 熒光屏“噪聲”信號(hào)過(guò)高
B. 時(shí)基線傾斜
C. 始脈沖消失
D. 容易出現(xiàn)“幻像波”

4.單項(xiàng)選擇題鍛件探傷靈敏度的校正方法（）。

A.沒(méi)有的固定的方法
B.采用底波方法
C.采用試塊方法
D.B和C都對(duì)

5.單項(xiàng)選擇題鍛件探傷時(shí)，如果用試塊比較法對(duì)缺陷定量，對(duì)于表面粗糙的缺陷，其實(shí)際尺寸會(huì)（）

A.大于當(dāng)量尺寸
B.等于當(dāng)量尺寸
C.小于當(dāng)量尺寸
D.以上都可能