A. 任何耦合劑
B. 粘度小的耦合劑
C. 聲阻抗大,粘度大的耦合劑
D. 聲阻抗小,粘度小的耦合劑
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你可能感興趣的試題
A. 耦合不良
B. 存在與聲束不垂直的缺陷
C. 存在與始脈沖不能分開的近表面缺陷
D. 以上都可能
A. 底面回波降低或消失
B. 底面回波不降低
C. 底面回波變窄
D. 以上都不對(duì)
A. 缺陷回波振幅降低
B. 入射波幅加寬
C. 熒光屏上出現(xiàn)“淋狀波”
D. 以上都對(duì)
A. 工件底面回波
B. 始脈沖消失
C. 草狀回波
D. 以上都不對(duì)
A. 散射
B. 轉(zhuǎn)換
C. 加強(qiáng)
D. 以上都不對(duì)
最新試題
液體的毛細(xì)作用力決定于表面張力與接觸角。
熒光探傷檢驗(yàn)零件前需適應(yīng)黑暗的時(shí)間是30 min。
潤(rùn)濕能力是由接觸角參數(shù)度量的。
對(duì)工件表面預(yù)處理時(shí)一般不推薦采用噴砂處理是因?yàn)榭赡馨压ぜ砻嫣幚淼牟桓蓛簟?/p>
使后乳化滲透探傷失敗的主要原因是滲透時(shí)間過(guò)長(zhǎng)。
顯像劑有助于檢出滯留在缺陷內(nèi)的滲透劑是由于清洗作用。
能夠正確反映滲透探傷靈敏度的試塊應(yīng)具備的條件是具有寬度要求和相當(dāng)長(zhǎng)度的表面裂紋、具有規(guī)定深度的表面裂紋、裂紋內(nèi)部不存在粘污物。
比較兩種滲透劑裂紋探測(cè)靈敏度的較好方法是用帶裂紋的A型鋁試塊。
使后乳化滲透探傷失敗的主要原因是乳化過(guò)度。
采用溶劑去除零件表面多余的滲透劑時(shí),溶劑的作用是溶解滲透液并將其去除。