填空題在一塊半導(dǎo)體晶片上采取一定的摻雜工藝,使兩邊分別形成P型和N型半導(dǎo)體,那么在這兩種半導(dǎo)體的交界處會形成一層很薄的層,稱為()。

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最新試題

當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時,而又沒有進行適當(dāng)?shù)难a償,會使定量誤差增加,精度下降。

題型:判斷題

當(dāng)工件內(nèi)應(yīng)力與波的傳播方向一致時,若應(yīng)力為壓縮應(yīng)力,則應(yīng)力作用會使工件彈性增加,導(dǎo)致聲速減慢。

題型:判斷題

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在檢測晶粒粗大和大型工件時,應(yīng)測定材料的衰減系數(shù),計算時應(yīng)考慮介質(zhì)衰減的影響。

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對于比正??v波底面回波滯后的變形波稱為遲到回波。

題型:判斷題

儀器時基線比例一般在試塊上調(diào)節(jié),當(dāng)工件與試塊的聲速不同時,儀器的時基線比例發(fā)生變化,影響缺陷定位精度。

題型:判斷題