測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。

檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。

當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。

單探頭法容易檢出（）。

超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

調整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進行（）。

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。

當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。

（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。

縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。