測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。

超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度，即（）。

儀器水平線性影響（）。

單探頭法容易檢出（）。

移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。

底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。

檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

在對缺陷進行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。