A.A試塊的大
B.B試塊的大
C.一樣大
D.無法比較
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A.φ20.5.0MHz
B.φ30.5.0MHz
C.φ16.1MHz
D.φ30.2.5MHz
A.信噪比太小
B.表面太粗糙
C.晶粒太細(xì)
D.以上都不是
A.>160mm
B.>240mm
C.>320mm
D.以上都不是
A.50×50mm2
B.100×100mm2
C.317×317mm2
D.447×447mm2
A.6dB法
B.絕對(duì)靈敏度法
C.以上A或B
D.以上A和B
最新試題
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長距離檢測。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
()是影響缺陷定量的因素。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。