A.底波方式法
B.AVG曲線圖法
C.對(duì)比試塊法
D.以上都是
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A.超聲波檢測(cè)
B.滲透檢測(cè)
C.目視檢測(cè)
D.磁粉檢測(cè)
E.渦流檢測(cè)
F.射線檢測(cè)
A.實(shí)用AVG曲線
B.DGS曲線
C.距離波幅曲線
D.以上都是
A.零點(diǎn)的左邊
B.零點(diǎn)的右邊
C.零點(diǎn)
A.連續(xù)波顯示
B.A掃描顯示
C.B掃面顯示
D.C掃描顯示
A.放大器線性,分辨力,示波管平面尺寸
B.放大器線性,分辨力,阻塞時(shí)間
C.放大器線性,水平線性,分辨力
D.發(fā)射功率,耗電功率,外形尺寸與重量
最新試題
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。