A.2.5MHz
B.1.25MHz
C.5MHz
D.10MHz
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A.近似為入射角的1/2
B.近似為入射角的4倍
C.等于入射角
D.是入射角的0.256倍
A.軸向檢驗(yàn)
B.徑向檢驗(yàn)
C.A和B兩種檢驗(yàn)都用
D.低頻和高頻檢驗(yàn)
A.材料的折射率
B.材料的聲阻抗
C.材料的彈性常數(shù)
D.材料的泊松比
A.大于入射角
B.小于入射角
C.與入射角相同
D.在臨界角之外
A.發(fā)射器
B.輻射器
C.分離器
D.換能器
最新試題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
在對缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。