某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）

對(duì)于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。

底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是（）

底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）

物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變（）

影響較大的散射線通常來(lái)自（）

以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測(cè)的是（）

底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān)，觀片燈亮度改變，最佳黑度值也將改變。

對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。

不同材料的相對(duì)吸收系數(shù)（）